光電流測試

產品簡介
光電流測試是一種用于測量器件或材料的光電性能的測試方法，主要應用于半導體器件、光電器件、太陽能電池等領域。

產品型號：S-LBIC

更新時間：2025-09-16

廠商性質：生產廠家

訪問量：2293

產品咨詢 18117546256

產品分類

PRODUCT CLASSIFICATION

光譜系統

光探測磁共振譜超快瞬態吸收拉曼光譜熒光光譜顯微缺陷膜厚半導體晶圓缺陷檢測儀高光譜測試系統太陽能電池量子效率太陽光模擬器IV系統顯微光電流成像系統探測器光響應度系統光譜變溫附件探針臺熒光系統組合熒光系統鏡頭透過率測試系統漫反射率測試系統反射、吸收率系統成像亮度計標準燈參考輻射定標電致發光系統常規發射光譜系統共聚焦拉曼光譜儀

查看全部產品

光電流測試系統概述

相干反斯托克斯拉曼光譜儀光譜精度高，測量范圍大

科研級CCD相機：探索未知世界的重要工具

顯微光電成像系統能夠實時捕捉和觀察樣品的動態變化

詳細介紹在線留言

　　光電流測試是一種用于測量器件或材料的光電性能的測試方法，主要應用于半導體器件、光電器件、太陽能電池等領域。

　　主要原理：

　　光電流測試的原理是利用光照射器件或材料后，通過測量器件或材料的電流輸出來判斷其光電性能。測試時，光源會照射在待測試樣品上，產生電子和空穴對并使其發生光電效應，從而產生電流輸出。根據電流輸出的大小和特征，可以判斷樣品的光電性能和特性參數。

光電流測試

　　主要步驟：

　　(1)準備測試樣品：準備待測試的器件或材料，并將其放置在測試臺上。

　　(2)設置測試條件：根據測試要求，設置光源的光強、波長、照射時間等測試條件。

　　(3)進行測試：打開光源，照射待測試樣品，記錄測試數據。

　　(4)分析測試結果：根據測試數據，分析樣品的光電性能和特性參數，如響應時間、量子效率、光電轉換效率等。

　　S-LBIC光電流測試簡介

　　• 寬光譜范圍(200~14000nm可選)，適用面廣

　　• 調制法測量技術，提升測量結果信噪比

　　• 開機即用的Turnkey系統設計，維護簡單

　　• 監視光路，方便樣品定位

　　• 全反射光路設計，優化光斑質量

　　• 高穩定性光源，降低背景噪聲影響

　　• 標準測量軟件，數據導出格式支持第三方軟件

　　光電流測試應用領域：

　　• 二維材料，太陽能電池，納米光子學，光電器件，PN結器件…

　　特點：

　　• 微米級空間分辨率

　　• 連續/脈沖激光可選

　　• 波長連續可調的超連續譜光源可選

　　• nA、pA、fA不同精度的源表可選

　　• 可以測量不同偏壓下的光電流圖像/光譜響應度

S-LBIC顯微光電流成像系統

　　主要應用：

　　(1)半導體器件測試：光電流測試主要應用于半導體器件的測試和分析，如光電二極管、光敏電阻等。

　　(2)光電器件測試：該測試方法還可以用于光電器件的測試和分析，如太陽能電池、光伏發電系統等。

　　(3)材料研究：光電流測試還可以應用于材料的研究，如光敏材料、半導體材料等的光電性能測試。

上一個：半導體參數分析儀

返回列表

下一個：ELSZ-2000系列ZETA電位 · 粒徑 · 分子量測試系統

在線留言

公司郵箱： qgao@buybm.com
服務熱線： 021-61052039
公司地址： 上海市浦東新區疊橋路456弄創研智造C7區301室

技術支持：化工儀器網管理登錄 sitemap.xml

關于我們
公司簡介企業文化榮譽資質聯系我們
快速通道
產品中心新聞中心技術文章在線留言
推薦產品
OPTM 系列顯微分光膜厚儀半導體晶圓缺陷檢測儀 ELSZ-2000系列ZETA電位 · 粒徑 · 分子量測試系統 RU120便攜式拉曼光譜儀

掃碼添加微信

<sup id="cmeqw"></sup>

產品簡介
光電流測試是一種用于測量器件或材料的光電性能的測試方法，主要應用于半導體器件、光電器件、太陽能電池等領域。

留言框

產品：

您的單位：

您的姓名：

聯系電話：

常用郵箱：

省份：

詳細地址：

補充說明：

驗證碼：

產品簡介 光電流測試是一種用于測量器件或材料的光電性能的測試方法，主要應用于半導體器件、光電器件、太陽能電池等領域。

留言框

產品：

您的單位：

您的姓名：

聯系電話：

常用郵箱：

省份：

詳細地址：

補充說明：

驗證碼：

產品簡介
光電流測試是一種用于測量器件或材料的光電性能的測試方法，主要應用于半導體器件、光電器件、太陽能電池等領域。